Rodriguez, G. «Notas técnicas. El Laboratorio De microscopía electrónica Del IDIEM. Escala De Intensidades De Los fenómenos sísmicos». Revista IDIEM 4, no. 1 (enero 14, 2016): Pág. 61–67. Accedido octubre 12, 2024. https://anales.uchile.cl/index.php/RIDIEM/article/view/38399.